无人机芯片快速温变试验箱执行标准
无人机芯片快速温变试验箱执行标准：一、国际标准框架标准编号标准名称测试要点适用场景IEC 60068-2-14环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化试验（快速温变）- 温度范围：-40℃~+150℃- 变化速率：≥3℃/min- 循环次数：≥10次循环民用/工业级电子元器件MIL-STD-810H军用设备环境工程程序要求- 温度冲击测试（Method
无人机芯片快速温变试验箱执行标准：一、国际标准框架标准编号标准名称测试要点适用场景IEC 60068-2-14环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化试验（快速温变）- 温度范围：-40℃~+150℃- 变化速率：≥3℃/min- 循环次数：≥10次循环民用/工业级电子元器件MIL-STD-810H军用设备环境工程程序要求- 温度冲击测试（Method
无人机芯片快速温变试验箱执行标准：
| 标准编号 | 标准名称 | 测试要点 | 适用场景 |
|---|---|---|---|
| IEC 60068-2-14 | 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化试验（快速温变） | - 温度范围：-40℃~+150℃ - 变化速率：≥3℃/min - 循环次数：≥10次循环 | 民用/工业级电子元器件 |
| MIL-STD-810H | 军用设备环境工程程序要求 | - 温度冲击测试（Method 509.6） - 需结合设备用途定制参数 | 军用无人机芯片 |
| JESD22-A108 | 半导体器件温度循环试验方法 | - 温度范围：-55℃~+150℃ - 变化速率：≥5℃/min - 循环次数：≥1,000次 | 车规级/高可靠性芯片 |
注：
IEC 60068-2-14于2021年更新，新增了对温度均匀性（±2℃）和波动度（±0.5℃）的量化要求。
MIL-STD-810H（2019版）强调“任务剖面”设计，需结合无人机实际工作环境参数调整测试条件。
| 标准编号 | 标准名称 | 测试要点 | 适用场景 |
|---|---|---|---|
| GB/T 2423.22 | 电工电子产品环境试验 第22部分：试验N：温度变化试验 | - 温度范围：-40℃~+125℃ - 变化速率：≥3℃/min - 循环次数：≥10次循环 | 国产无人机芯片 |
| GJB 150.11A | 军用设备环境试验方法 第11部分：温度冲击试验 | - 温度范围：-55℃~+125℃ - 变化速率：≥5℃/min - 循环次数：≥20次循环 | 军工级无人机芯片 |
| SJ/T 11373 | 半导体器件 温度循环试验方法 | - 与JESD22-A108等效，适用于国产芯片认证 | 国产高可靠性芯片 |
